Published on March 1, 2006 at 8:28 AM
一個團隊的研究人員從波士頓大學已開發出一種新的應用,使一個熒光標記的DNA層的位置更精確的測量。
根據他們的研究,發表在最近發行的國家科學院會議錄“,新技術提供洞察到的DNA分子附著到表面,如在基因組學研究中使用的芯片,的形狀。確定表面結合的DNA分子如何符合特定信息可能會顯著提高DNA雜交和基因芯片技術的效率,從而影響新興的臨床和生物技術領域。
該技術被稱為光譜自干擾熒光顯微鏡(SSFM),地圖,從一個熒光團的熒光分子在一個分層的反射面與亞納米精度的位置位於標籤的干擾頻譜。 “儘管其他一些方法已被用於確定的DNA層的結構,他們不是在DNA分子形狀的變化非常敏感,貝內特說:”戈德堡,物理學教授和研究的共同作者。 “我們集團已開發出SSFM精確的測量,以確定一個相對的芯片表面,這為我們提供特定信息的DNA分子的構象的熒光標記的位置。”
隊使用SSFM,估計盤繞的單鏈 DNA,不同長度的DNA雙鏈的平均傾斜的形狀,估計量的雜交。數據提供了重要的新型光學表面分析方法的DNA芯片表面上的行為能力的新的證明。
“確定 DNA構象及雜交行為提供向前移動 DNA界面應用所需的信息,薩利姆說:”M. Unlu,電氣和計算機工程教授和研究的共同作者。 “我們的研究表明,定位附著在DNA鏈中某個位置的熒光標記,提供高度準確的信息綁定到芯片表面的DNA分子的形狀。”
進一步的研究調查包括列夫Moiseev博士,電氣和計算機工程的研究助理;安娜K.天鵝,電氣和計算機工程副教授;和查爾斯 R.康托教授,生物醫學工程和先進的生物技術研究中心共同主任卜。
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