Published on August 2, 2006 at 5:16 AM
測量的方式，大腦生長在早產兒，尤其是大腦表面積和皮質體積之間的關係，出生後，可能有助於預測神經發育障礙。
大衛愛德華茲和倫敦帝國學院的同事利用磁共振成像技術來衡量，從23至48週的妊娠113極度早產的嬰兒在22和29週妊娠之間出生的大腦發育。這些兒童中有63份，然後評估，看看他們是如何發展在大約 2歲的弱智。研究人員發現，大腦表面面積增長快於大腦的體積，但速度較慢的表面積的增長速度相對量越有可能是發展遲緩。更多的早產兒，和那些為男性，是最有可能增長放緩的大腦表面與大腦體積比較。
這些發現表明，大腦發育過程中正常發展的格局，其中的表面面積的增長超過音量，過早出生的嬰兒的干擾和中斷增長量可預測是否有發展遲緩，2年後。誕生的早期，更大的破壞，此外，男孩受到的影響比女生多。
如果這些結果都證實以上的嬰兒，那麼它可能會以預測哪些兒童可能需要發展的支持，稍後監察出生後大腦發育。這項研究還表明為進一步開展工作的途徑，了解這些兒童的確切神經解剖學減值。
http://www.plosmedicine.org
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