7 новых супер-микроскопов и специально конструированного здание передадут научные работники на возможностях DTU уникально конструировать новые материалы.
Среди областей которые помогут окружающая среда, изготавливание, энергия и переход.
Самая мощная группа в составе микроскопы в мире была inaugurated пятница Г-ном Mærsk Mc-Kinney Møller судовладельца. Центр DTU для Электрона Nanoscopy (CEN DTU) задолжает своему творению к большому пожертвованию от A.P. Møller и Учредительству Chastine Mc-Kinney Møller для Общих Назначений.
«Он уникально для того чтобы мочь и построить честолюбивый центр и оборудовать его с самое лучшее абсолюта в технологии электронной микроскопии в тоже время. Это поднимает Данськие экспириментально средства для исследования в материалы и нанотехнологии к типу мира. Оно будет иметь главное влияние на nanoscience во всем мире,» говорит Lars Pallesen, Пастор DTU.
Один из итога 7 новых микроскопов Просвечивающий Электронный Микроскоп почти 4-метр-высокого ` Относящий К Окружающей Среде', развитый в сотрудничестве с DTU мир-ведущей Компанией изготовления FEI микроскопа. Он самые мощные своего типа в мире.
«С этим заново развитым микроскопом, мы будем увидеть детали атомн-уровня, в будущем также в 3D. Увеличение настолько больш что человеческие волосы появились как broard как футбольное поле. «Мы рассчитываем мочь наблюдать с разрешением 0,07 nanometres - половина размера атома углерода,» говорит Др. Rafal E. Dunin-Borkowski, Директор CEN DTU.
Согласно Др. Dunin-Borkowski, это будет огромный шаг вперед, например в поле исследования материалов, при научные работники увидеть что случается к индивидуальным атомам когда они делает изменения в материалах и дает им новые свойства.
«Которое применяется к сплавам алюминия и магния, строительным материалам, и больше. Эти новые материалы способные свергали с курча общества в зонах как сообщение, энергия, переход и электроника,» добавляет Др. Dunin-Borkowski.
Микроскопы DTU специальны потому что они будут первыми коммерчески микроскопами позволяющ 100 процентам компенсации для ошибок в электромагнитных линзах.