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Il AcuityXR di Bruker con i profilatori di superficie ottici di ContourGT rompe il limite di diffrazione

Bruker Corporation (NASDAQ: BRKR) annunciato oggi alla caduta 2010 della società (MRS) di ricerca dei materiali che incontra il AcuityXR™, un modo di superficie ottico novello del profilatore che si combina hardware unico e brevetto-in corso di Bruker e tecnologia software per permettere a ContourGT™ selezionato senza contatto, i profilatori di superficie ottici 3D per rompere il limite di diffrazione ottico e per consegnare le risoluzioni laterali che precedentemente sono state considerate impossibli raggiungere.

“AcuityXR combina gli algoritmi radicalmente nuovi di misura con la tecnologia di hardware migliorata della metrologia nei sistemi ContourGT-K1, X3 e X8 che consegnano insieme le risoluzioni laterali mai prima raggiunte nella microscopia ottica„

Molte applicazioni del nanoscale nei giacimenti lavoranti medici e di precisione a semiconduttore, oggi hanno le funzionalità e difetti di superficie con le dimensioni che limitano la rilevazione o l'identificazione dovuto il limite di diffrazione ottico. Tali funzionalità e difetti minuscoli spesso direttamente pregiudicano la funzione, la prestazione, la qualità e/o la fabbricazione rende egualmente e sono di grande interesse ai ricercatori ed al personale di produzione QA/QC. I sistemi di superficie ottici del profilatore di Bruker forniti di nuovo modo di AcuityXR hanno indicato la risoluzione delle funzionalità inferiore a 130 nanometri di larghezza, che è senza precedenti nella microscopia ottica ed è quasi tre volte più fine di per i sistemi senza questa tecnologia. Ancora, AcuityXR permette a questo nuovo livello di precisione mentre conserva ampio i vantaggi di Bruker senza contatto, di rendimento elevato e di campo visivo il delineamento di superficie ottico 3D. Con AcuityXR, la ripetibilità dimensionale sulle strutture strette è stata indicata per migliorare da più di un fattore di 5x, mostrante un vero vantaggio della metrologia alla tecnologia oltre alla sua capacità di rivelare le funzionalità particolarmente fini. AcuityXR è una capacità facoltativa che ora è disponibile sui profilatori di superficie ottici ContourGT-K1, X3 e X8 di Bruker.

AcuityXR combina gli algoritmi radicalmente nuovi con la tecnologia di hardware migliorata della metrologia nel ContourGT-K1, X3 di misura e sistemi X8 che consegnano insieme le risoluzioni laterali mai prima raggiunte nella microscopia ottica,„ ha detto il sig. Ross Q. Smith, il vicepresidente e direttore generale dello stilo di Bruker & dell'unità ottica della metrologia. “Questa nuova capacità notevole, che è esclusivamente disponibile sui sistemi di ContourGT, è un notevole vantaggio sia ai nostri clienti correnti che futuri nelle applicazioni lavoranti mediche e di precisione a semiconduttore, dove le feature size sono restringenti mentre l'esigenza di qualità sta aumentando continuamente.„

Dott. segno R. Munch, Presidente dell'affare nano delle superfici di Bruker, aggiunto: “Configurazioni di AcuityXR sopra le capacità leader del settore di prestazione, di ripetibilità e di facilità di uso della famiglia di prodotto di ContourGT. Portare questo risultato senza precedenti per commercializzare vero illustra l'impegno in corso di Bruker per fornire i sistemi della metrologia del nanosurface dell'più alto valore al nostro industriale ed ai clienti di R & S.„

AcuityXR e ContourGT alla SIG.RA riunione autunnale di 2010

I sistemi di ContourGT forniti di AcuityXR saranno dimostrati alla cabina nana delle superfici di Bruker (no. 300) alla SIG.RA riunione autunnale tenutasi al centro di convenzione a Boston, mA di Hynes, dal 30 novembre al 2 dicembre. Bruker condurrà un seminario su AcuityXR ed altri modi di superficie ottici avanzati di misura martedì 30 novembre al 6:30 PM nell'hotel di Sheraton Boston, 3° piano, gavitello G.

Source:

 Bruker Corporation

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