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AcuityXR de Bruker con los profilers superficiales ópticos de ContourGT rompe límite de difracción

Bruker Corporation (NASDAQ: BRKR) anunciado hoy en la caída 2010 de la sociedad (MRS) de la investigación de los materiales que encuentra el AcuityXR™, una manera superficial óptica nueva del profiler que combina hardware único, patente-pendiente de Bruker y tecnología de programación para habilitar ContourGT™ selecto sin contacto, los profilers superficiales ópticos 3D para romper el límite de difracción óptico y para entregar las resoluciones laterales que previamente eran consideradas imposibles lograr.

“AcuityXR combina radicalmente nuevos algoritmos de la medición con la tecnología de hardware aumentada de la metrología en los sistemas ContourGT-K1, X3 y X8 que juntas nunca entregan resoluciones laterales antes de logrado en microscopia óptica”

Muchos usos del nanoscale en los campos que labran a máquina del semiconductor, médicos y de la precisión tienen hoy características y defectos superficiales con las dimensiones que limitan la detección o la identificación debido al límite de difracción óptico. Tales características y defectos minúsculos afectan a menudo directamente a la función, funcionamiento, la calidad y/o la fabricación rinde y está de gran interés a los investigadores y a los personales de la producción QA/QC igualmente. Los sistemas superficiales ópticos del profiler de Bruker equipados de la nueva manera de AcuityXR han mostrado la resolución de características abajo de 130 nanómetros en la anchura, que es sin precedente en microscopia óptica y es casi tres veces más fina que para los sistemas sin esta tecnología. Además, AcuityXR habilita este nuevo nivel de precisión mientras que preserva las ventajas de Bruker sin contacto, del campo visual amplio y del alto rendimiento perfilado superficial óptico 3D. Con AcuityXR, la repetibilidad dimensional en las estructuras estrechas ha sido mostrada para perfeccionar por más que un factor de 5x, mostrando una ventaja verdadera de la metrología a la tecnología además de su capacidad de revelar características excepcionalmente finas. AcuityXR es una capacidad opcional que está disponible ahora en los profilers superficiales ópticos ContourGT-K1, X3 y X8 de Bruker.

AcuityXR combina radicalmente los nuevos algoritmos con la tecnología de hardware aumentada de la metrología en el ContourGT-K1, X3 de la medición y los sistemas X8 que juntas nunca entregan resoluciones laterales antes de logrado en microscopia óptica,” dijo a Sr. Ross Q. Smith, vicepresidente y director general de la aguja de Bruker y de la unidad óptica de la metrología. “Esta nueva capacidad notable, que está exclusivamente disponible en los sistemas de ContourGT, es una gran ventaja a nuestros clientes actuales y anticipados en usos que labran a máquina del semiconductor, médicos y de la precisión donde están que encoge las tallas de característica mientras que la necesidad de la calidad está aumentando contínuo.”

El Dr. marca R. Munch, presidente del asunto nano de las superficies de Bruker, adicional: “Estructuras de AcuityXR sobre las capacidades industria-de cabeza del funcionamiento, de la repetibilidad y de la facilidad de empleo de la familia de producto de ContourGT. Traer este logro sin precedente para comercializar ilustra verdad la consolidación en curso de Bruker para ofrecer los sistemas de la metrología del nanosurface del valor más alto a nuestros clientes industriales y del R&D.”

AcuityXR y ContourGT en la SEÑORA reunión de otoño de 2010

Los sistemas de ContourGT equipados de AcuityXR serán demostrados en la cabina nana de las superficies de Bruker (no. 300) en la SEÑORA reunión de otoño celebrada en el centro de convenio de Hynes en Boston, mA, del 30 de noviembre al 2 de diciembre. Bruker conducto un seminario sobre AcuityXR y otras maneras superficiales ópticas avanzadas de la medición el martes 30 de noviembre en el 6:30 P.M. en el hotel de Sheraton Boston, 3ro suelo, baliza G.

Source:

 Bruker Corporation

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