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Capacidades del zoom del AFM del nanoscale de las cosechadoras de Bruker con microscopia óptica de la alto-producción 3D

Bruker anunció hoy en la reunión de otoño de la sociedad de la investigación (MRS) de 2012 materiales la baja del accesorio atómico único del microscopio de la fuerza (AFM) de NanoLens™ para los microscopios ópticos de ContourGT® 3D. Diseñado para la instalación rápida en una nueva cinco-posición, la torre completo automatizada, el NanoLens compacto entrega capacidades de alta resolución sin precedentes de la proyección de imagen sin sacrificar velocidad de la medición en maneras ópticas. Con NanoLens, los utilizadores pueden realizar la superficie de la nanómetro-escala y el análisis de la propiedad material en el mismo sistema que ofrece la industria las mediciones ópticas más repetibles y más versátiles de la microscopia 3D.

“Con los cambios que toman bajo cinco minutos combinados con “diseño indicador-capaz de la medición a pedido el” de nuestros microscopios ópticos 3D, NanoLens del extremo asegura la hora más rápida a los datos para el AFM y las maneras ópticas de la medición.”

“Hemos dirigido una necesidad en industria a las capacidades del zoom del AFM del nanoscale de la cosechadora con microscopia óptica de la alto-producción 3D,” dijo grupo de la ESTERA de la marca R. Munch, del Ph.D., del presidente, de Bruker y división nana de las superficies de Bruker. “El NanoLens hace fácil aumentar el campo visual grande, la alta producción y la resolución incomparable de Z-AXIS de nuestros sistemas de ContourGT con la resolución más alta del lateral “1000x” de un AFM. Esto puede ser excepcionalmente útil para la cadena de producción análisis de defecto y revelado de proceso, donde las muestras móviles gastadas tiempo entre las herramientas significan productividad perdida y más bajo rinden.”

“Nos centramos en la fabricación del NanoLens simple instalar, operar y mantener. Sorprenderán a los clientes que son familiares con tecnología del AFM en cómo rápidamente y fácil es conectar el NanoLens y comenzar a cerco datos,” Rob adicional Loiterman, vicepresidente ejecutivo y director general de la aguja de Bruker y del asunto óptico de la metrología. “Con los cambios que toman bajo cinco minutos combinados con “diseño indicador-capaz de la medición a pedido el” de nuestros microscopios ópticos 3D, NanoLens del extremo asegura la hora más rápida a los datos para el AFM y las maneras ópticas de la medición.”

Source:

Bruker Corporation

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