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A nova geração Mentir-SEMs apresentou por Zeiss

ZEISS apresenta uma nova geração de microscópios electrónicos focalizados da exploração do feixe de íon (Mentir-SEMs) para aplicações da parte alta na pesquisa e na indústria. A viga mestre 550 de ZEISS caracteriza um aumento significativo na definição para a imagem lactente e a caracterização material e um ganho da velocidade na preparação da amostra.

Nanostructures tal como compostos, metais, matérias biológicos ou semicondutores pode ser investigado com métodos analíticos e da imagem lactente paralelamente. A viga mestre 550 de ZEISS permite a alteração e a monitoração simultâneas das amostras, tendo por resultado a preparação rápida da amostra e a produção alta por exemplo para a preparação da cruz-secção, do lamella de TEM ou a nano-modelação.

A viga mestre 550 de ZEISS fornece a melhor qualidade da imagem no 2D e em 3D. O modo em tandem novo do decel permite a definição aumentada junto com um máximo de contraste da imagem em baixas energias da aterragem. O sistema ótico de elétron de abertura de caminhos dos Gêmeos II entrega a definição a melhor na baixa tensão e na corrente alta da ponta de prova simultaneamente.

A coluna MENTIR combina o disponível o mais alto MENTE uma corrente de nA 100 com o modo novo de FastMill, permitindo o processamento material e a imagem lactente altamente precisos e mais eficientes paralelamente. Adicionalmente, o processo novo para a recuperação automatizada da emissão aumenta a facilidade de utilização e aperfeiçoa a coluna MENTIR para resultados reprodutíveis durante experiências a longo prazo.

Os cientistas materiais lucram com 3D as propriedades analíticas excelentes, especialmente agradecimentos ao módulo também novo, inteiramente integrado para análises de 3D EDS com atlas 5. de ZEISS. Nas ciências da vida, a viga mestre 550 de ZEISS convence com sua definição aumentada em baixas tensões e uma estabilidade proeminente para o tomografia 3D a longo prazo. Além disso, é possível integrar óptima a estação de trabalho nova em trabalhos correlativos e combiná-la com a microscopia da luz, do feixe do raio X ou de íon.

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    Carl Zeiss Microscopy GmbH. (2019, June 19). A nova geração Mentir-SEMs apresentou por Zeiss. News-Medical. Retrieved on July 02, 2020 from https://www.news-medical.net/news/20170420/New-generation-of-FIB-SEMs-presented-by-Zeiss.aspx.

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