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Nueva generación de Bola-SEMs presentada por Zeiss

ZEISS presenta una nueva generación de microscopios electrónicos enfocados de la exploración del haz de ión (Bola-SEMs) para los usos de gama alta en la investigación y la industria. La viga transversal 550 de ZEISS ofrece un aumento importante en la resolución para la proyección de imagen y la caracterización material y un avance de la velocidad en la preparación de la muestra.

Nanostructures tal como compuestos, metales, biomateriales o semiconductores se puede investigar con métodos analíticos y de la proyección de imagen paralelamente. La viga transversal 550 de ZEISS permite la modificación y la supervisión simultáneas de muestras, dando por resultado la preparación rápida de la muestra y la alta producción e.g para la preparación del cruz-seccionamiento, de la laminilla de TEM o nano-modelar.

La viga transversal 550 de ZEISS ofrece la mejor calidad de la imagen en 2.a y 3D. La nueva manera en tándem del decel habilita la resolución aumentada así como una maximización del contraste de la imagen en las energías inferiores del desembarque. La óptica de electrón pionera de los géminis II entrega la resolución óptima en la baja tensión y la alta corriente de la antena simultáneamente.

La olumna de la BOLA combina la corriente disponible más alta de la BOLA de nA 100 con la nueva manera de FastMill, teniendo en cuenta el tratamiento y la proyección de imagen altamente exactos y más eficientes de materiales paralelamente. Además, el nuevo proceso para la recuperación automatizada de la emisión aumenta la facilidad de manejo y optimiza la olumna de la BOLA para los resultados reproductivos durante experimentos a largo plazo.

Los científicos materiales se benefician 3D de las propiedades analíticas excelentes, especialmente gracias al módulo también nuevo, completo integrado por análisis de 3D EDS con el atlas 5. de ZEISS. En las ciencias de la vida, la viga transversal 550 de ZEISS convence con su resolución aumentada en las bajas tensiones y una estabilidad excepcional para la tomografía a largo plazo 3D. Por otra parte, es posible integrar óptimo el nuevo puesto de trabajo en flujos de trabajo correlativos y combinarlo con microscopia de la luz, del haz de la radiografía o de ión.

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