ZEISS introduit le système de la tomographie 3D microcomputed par rayon X non destructif neuf

Établi sur la plate-forme illustre de ZEISS Xradia et inducteur-convertible au microscope de rayon X de ZEISS Xradia Versa

ZEISS introduit un instrument neuf de représentation de rayon X, microCT de contexte de ZEISS Xradia, un grand champ de vision, système de la tomographie 3D microcomputed par rayon X non destructif. Le contexte de ZEISS Xradia est établi sur la technologie testée et fiable de ZEISS Xradia, retirant des avantages de croisement des années des avancements de plate-forme et fournissant l'affirmation d'investissement car le système est seulement capable de l'inducteur-conversion en microscope de rayon X de ZEISS Xradia Versa 3D (XRM), l'instrument qui règlent la barre dans la représentation performante de rayon X dans le laboratoire.

Le contexte de ZEISS Xradia est une solution tomographique de représentation pour un grand choix de besoins de la caractérisation 3D et de l'inspection, des applications à la recherche en matériaux et des sciences de la vie à l'utilisation industrielle à l'étude le développement de produits ou l'exploration de ressource naturelle. Les usagers règlent facilement le système sur de grands échantillons intacts d'image pour indiquer les petits groupes intérieurs dans leur plein contexte 3D, ou de petits échantillons pour maximiser les caractéristiques fines géométriques d'agrandissement et de résolution avec de haute résolution et contrasté. Le contexte de ZEISS Xradia offre la qualité des images, la stabilité, et la facilité d'utilisation superbes, avec une lecture efficace de débit d'environnement et de haut de flux de travail.

Lourens Steger, tête de microscopie de rayon X chez ZEISS Etats-Unis, indique :

Nous continuons à étendre les capacités de nos produits de XRM dans le domaine avec la fonctionnalité neuf offerte et les modules pour répondre aux besoins des clients en évolution. Le contexte de ZEISS Xradia joint cette famille et hérite du même engagement à l'extendibility qui s'assure qu'un premier investissement en technologie de l'image avancée de rayon X sera bien protégé dans le contrat à terme. Le contexte de ZEISS Xradia permet aux propriétaires d'entrer dans l'écosystème de ZEISS Xradia avec un système pour adresser leurs applications aujourd'hui, et à la chambre de se développer comme nécessaire.

Avec une étape robuste et une source controlée par le logiciel flexible/détecteur positionnant, les usagers mettent en boîte de grands, lourds, et grands échantillons d'image utilisant la plate-forme neuve dans leur plein contexte 3D. Un détecteur élevé de densité de pixel active la définition du bon petit groupe même dans les volumes relativement grands de représentation, ainsi que la résolution spatiale submicronique pour de petits échantillons. Le support rapide et le cadrage d'échantillon, un flux de travail profilé d'acquisition, les temps rapides de reconstruction d'exposition et de caractéristiques, et un autochargeur optionnel effectuent à contexte de ZEISS Xradia un instrument élevé de représentation de débit pour répondre à un large éventail de besoins de la représentation 3D et de la caractérisation.

Source : https://www.zeiss.com/