ZEISS startet neues Bereichemissions-Rasterelektronenmikroskop

ZEISS führt sein neues Bereichemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) ZEISS GeminiSEM 450 ein. Das Instrument kombiniert Ultrahochauflösungsdarstellung mit der Fähigkeit, um hoch entwickelten Analytics beim Beibehalten von Flexibilität und von Benutzerfreundlichkeit durchzuführen.

Mit ZEISS GeminiSEM 450, Benutzernutzen empfindlichen Oberflächendarstellung von der Auflösungs-, und von einer optischen Anlage, die sie ideal unterstützt, wenn es die besten analytischen Ergebnisse erzielt - besonders beim Arbeiten mit Niederspannungen. Analyse der Hoch-Durchsatz Elektronrückstreubeugung (EBSD) und Niederspannung entbinden Röntgenstrahlspektroskopie (EDS) die ausgezeichneten Ergebnisse wegen der Fähigkeit ZEISS-Zwillinge 450's an genau und steuern unabhängig Spotgröße und Strahlstrom. Mit den Zwillingen konstruieren 2, immer zu arbeiten ist möglich, unter optimierten Bedingungen, wie der Benutzer zwischen Darstellung und analytische Betriebsarten an der Note einer Taste nahtlos schalten kann. Dieses stellt ZEISS GeminiSEM 450 die ideale Plattform für die höchsten Nachfragen in der Darstellung und in der analytischen Leistung her.

Darüber hinaus ist ZEISS GeminiSEM 450 konstruiert worden, um eine breite Vielzahl von Beispielbaumustern von den klassischen leitfähigen Metallen zu versorgen, um empfindliche Polymere zu strahlen. Insbesondere verringert die variable Drucktechnologie von ZEISS GeminiSEM 450, auf nicht leitfähigen Proben aufzuladen, ohne Inlens-Befundfähigkeiten zu kompromittieren und aktiviert gleichzeitig hochauflösende EDS-Analyse, indem sie den Fußleisteneffekt herabsetzt. Basiert auf dieser Auslegung, stellt ZEISS GeminiSEM 450 ein flexibles Instrument zur Verfügung, das zu einer breiten Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft, in den industriellen Labors und in den Biowissenschaften entsprochen wird.

Mit ZEISS GeminiSEM 450 haben wir ein neues FE-SEM Flaggschiff für höchste Leistung Analytics und Ultrahochauflösung eingeführt. Zusätzlich zu dieser Produkteinführung stellen wir auch beträchtliche Verbesserungen zum Sigma ZEISS GeminiSEM und ZEISS Familien bereit. Als Beispiel profitiert die ZEISS-Sigmafamilie jetzt von der Einführung der Gewehrbetriebsart der hohen Auflösung, die ist vorher nur gewesen erhältlich auf der ZEISS-Zwillingsserie“

Dr. Michael Albiez, Kopf der Elektronenmikroskopie bei ZEISS.

Quelle: Auflösung