蔡司生成新的场致发射扫描电子显微镜

蔡司介绍其新的场致发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 蔡司 GeminiSEM 450。 仪器结合超离频的解决方法想象以这个功能执行先进的逻辑分析方法,当维护灵活性和易用时。

蔡司 GeminiSEM 450,从高分辨率的用户受益,表面敏感想象和在得到理想地说支持他们最佳的分析结果 -,特别是当与低压一起使用时的一个光学系统。 高处理量电子背景散射的衍射 (EBSD) 分析和低压 X-射线分光学 (EDS) 实现非常好的结果由于蔡司双子星座 450's 能力到精密地和独立地控制光点直径和射线当前。 双子星座 2 设计,在优化情况下总是从事是可能的,这个用户能切换无缝在想象和分析模式之间在按钮的接触。 这做蔡司 GeminiSEM 450 高需求的理想的平台在想象和分析性能。

另外,蔡司 GeminiSEM 450 被设计顾及从古典导电性金属的各种各样的范例类型放光敏感聚合物。 特别是可变的压技术蔡司 GeminiSEM 450 减少充电在绝缘的范例,无需减弱 Inlens 检测功能和通过使裙子作用减到最小同时启用高分辨率 EDS 分析。 凭此设计,蔡司 GeminiSEM 450 在材料学、行业实验室和生命科学提供配合的一台灵活的仪器给各种各样的应用。

蔡司 GeminiSEM 450 我们介绍高性能逻辑分析方法和超离频的解决方法的一艘新的 FE-SEM 旗舰。 除此产品创办之外,我们也铺开重大的改进对蔡司 GeminiSEM 和蔡司斯格码系列。 为例,蔡司斯格码系列现在受益于以前只是可用的在蔡司双子星座串联”高分辨率枪模式的简介

迈克尔 Albiez,电子显微镜术题头博士在蔡司的。

来源: https://www.zeiss.com/