蔡司生成新的場致發射掃描電子顯微鏡

蔡司介紹其新的場致發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 蔡司 GeminiSEM 450。 儀器結合超離頻的解決方法想像以這個功能執行先進的邏輯分析方法,當維護靈活性和易用時。

蔡司 GeminiSEM 450,從高分辨率的用戶受益,表面敏感想像和在得到理想地說支持他們最佳的分析結果 -,特別是當與低壓一起使用時的一個光學系統。 高處理量電子背景散射的衍射 (EBSD) 分析和低壓 X-射線分光學 (EDS) 實現非常好的結果由於蔡司雙子星座 450's 能力到精密地和獨立地控制光點直徑和射線當前。 雙子星座 2 設計,在優化情況下總是從事是可能的,這個用戶能切換無縫在想像和分析模式之間在按鈕的接觸。 這做蔡司 GeminiSEM 450 高需求的理想的平臺在想像和分析性能。

另外,蔡司 GeminiSEM 450 被設計顧及從古典導電性金屬的各種各樣的範例類型放光敏感聚合物。 特別是可變的壓技術蔡司 GeminiSEM 450 減少充電在绝緣的範例,无需減弱 Inlens 檢測功能和通過使裙子作用減到最小同時啟用高分辨率 EDS 分析。 憑此設計,蔡司 GeminiSEM 450 在材料學、行業實驗室和生命科學提供配合的一臺靈活的儀器給各種各樣的應用。

蔡司 GeminiSEM 450 我們介紹高性能邏輯分析方法和超離頻的解決方法的一艘新的 FE-SEM 旗艦。 除此產品創辦之外,我們也鋪開重大的改進對蔡司 GeminiSEM 和蔡司斯格碼系列。 为例,蔡司斯格碼系列現在受益於以前只是可用的在蔡司雙子星座串聯」高分辨率槍模式的簡介

邁克爾 Albiez,電子顯微鏡術題頭博士在蔡司的。

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